Shah Alam

  • UiTM Shah Alam
  • UITM Sarawak
  • UITM Perlis
  • UITM Pulau Pinang
  • UITM Sabah
  • UiTM Negeri Sembilan
  • UiTM Johor
  • UITM Melaka
  • UITM Pahang
  • UITM Kelantan
  • UITM Kedah
  • UITM Perak
  • UITM Terengganu
  • UiTM Libraries
.

Defects in Microelectronic Materials and Devices / Edited by Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf

  • Linear

  • MARC

  •  
    TK7871
    .D44 2009
     
    874158 (Shelf),BOK
    Defects in Microelectronic Materials and Devices.

         xvi, 753 pages : illustrations ; 26 cm.

         ISBN 9781420043761
         .-ISBN 1420043765.
         
         1. Microelectronics - Testing - Materials 2. Metal oxide semiconductor field-effect transistors - Testing 3. Integrated circuits - Defects - Testing.I. Fleetwood, Daniel M. II. Pantelides, Sokrates T. III. Schrimpf, Ronald Donald IV. Title
         Library : UiTM Shah Alam; UITM Pulau Pinang; UITM Terengganu
    Accn No.Item StatusAdd IdLocationSMDItem Category
    874158ShelfPERPUSTAKAAN KEJURUTERAAN TAR(P3)BOOKRAK TERBUKA (OPEN SHELVES)

Search In

Shelf Browse

No Shelf Browse Data.

Top