Shah Alam

  • UiTM Shah Alam
  • UITM Sarawak
  • UITM Perlis
  • UITM Pulau Pinang
  • UITM Sabah
  • UiTM Negeri Sembilan
  • UiTM Johor
  • UITM Melaka
  • UITM Pahang
  • UITM Kelantan
  • UITM Kedah
  • UITM Perak
  • UITM Terengganu
  • UiTM Libraries
.

Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala

  • Linear

  • MARC

  •  
    TK7874.75
    .L35 1997
     
    482209 (Shelf),BOK
    Lala, Parag K.

         Digital circuit testing and testability. - Chestnut Hill, MA , 1997.

         xii,199 p. : ill. ; 24 cm.
         Includes index.

         ISBN 0124343309.
         
         1. Integrated circuits - Very large scale integration - Testing 2. Digital integrated circuits - Testing.I. Title
         Library : UiTM Shah Alam
    Accn No.Item StatusAdd IdLocationSMDItem Category
    482209ShelfPERPUSTAKAAN KEJURUTERAAN TAR(P3)BOOKret

Search In

Shelf Browse

No Shelf Browse Data.

Top