Shah Alam

  • UiTM Shah Alam
  • UITM Sarawak
  • UITM Perlis
  • UITM Pulau Pinang
  • UITM Sabah
  • UiTM Negeri Sembilan
  • UiTM Johor
  • UITM Melaka
  • UITM Pahang
  • UITM Kelantan
  • UITM Kedah
  • UITM Perak
  • UITM Terengganu
  • UiTM Libraries
.

Hot-carrier effects in MOS devices / Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada

  • Linear

  • MARC

  •  
    TK7871.99.M44
    T35 1995
     
    444955 (Shelf),BOK
    Takeda, Eiji , 1944-

         Hot-carrier effects in MOS devices. - San Diego , 1995.

         xii, 312 p. : ill. ; 24 cm.

         ISBN 0126822409.
         
         1. Metal oxide semiconductors 2. Hot carriers.I. Yang, C. Y.-W.,1948- II. Miura-Hamada, Akemi III. Title
         Library : UiTM Shah Alam
    Accn No.Item StatusAdd IdLocationSMDItem Category
    444955ShelfPERPUSTAKAAN KEJURUTERAAN TAR(P3)BOOKret

Search In

Shelf Browse

No Shelf Browse Data.

Top